Equipement – spectrophotomètres

L’ITECH a fait récemment l’acquisition de 2 spectrophotomètres dotés d’une caméra numérique : spectrophotomètre d’imagerie multi-spectrale XRITE METAVUE VS 3200 et spectrophotomètre multi-angle à 6 angles XRITE MA-T6.  Ces appareils sont à la disposition des industriels pour réaliser des mesures ou dans le cadre des modules de formation à la couleur.
XRITE METAVUE VS 3200
XRITE VS3200

C’est un spectrophotomètre d’imagerie multi-spectrale, doté d’une caméra numérique pour visualiser le placement de l’échantillon, et sélectionner la zone exacte à mesurer.

Il permet de mesurer sans contact la couleur et la réflectance de nombreux types d’échantillons, comme les peintures et revêtements, les plastiques, les textiles, les produits cosmétiques, et également les échantillons contraignants : petite taille, forme irrégulière ou non plane, liquides, pâtes, poudres, gels.

Caractéristiques :
Géométrie directe 45°/0° sans contact avec capteur de brillance
Lampe LED à spectre complet de 400 à 700 nm
Diamètre de mesure réglable de 2 mm à 12 mm
Mesure en réflexion, horizontale ou verticale
Logiciel Color iQc : pour le Contrôle-Qualité
Logiciel Color iMatch : pour la Formulation et Correction des teintes par ajout ou reformulation
XRITE MA-T6
XRITE MAt6

C’est un spectrophotomètre multi-angle à 6 angles (-15°/15°/25°/45°/75°/110°), doté d’une caméra numérique pour visualiser en direct la mesure.

Il permet de mesurer la couleur et la réflectance de nombreux types d’échantillons de teintes à effets, comme les peintures et revêtements, les plastiques, les textiles, les cosmétiques, et également dans les domaines tels que l’automobile, les matériaux de construction, l’électronique grand public, l’impression et les emballages.

La caméra numérique mesure  la couleur, l’iridescence, le grain, l’éclat du scintillement (Sparkle Grade) et la rugosité diffuse (Diffuse Coarseness).

Caractéristiques :
1 capteur de mesure à 45° et 6 angles d’éclairage à -15°/15°/25°/45°/75°/110°
Lampe LED à spectre complet de 400 à 700 nm
Diamètre de mesure 12 mm
Mesure horizontale en réflexion
 
Logiciel Nucleos EFX Qc : pour le Contrôle-Qualité
 
 
 
 

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